Investigation of stoichiometry effect on structural and electro-optical properties of vanadium oxide thin films deposited by HiPIMS

نویسندگانHamed NajafiAshtiani- Adeleh Vatankhahan,-Maliheh Azadparvar
نشریهIRANIAN JOURNAL OF PHYSICS RESEARCH
نوع مقالهFull Paper
تاریخ انتشار2025
رتبه نشریهISI
نوع نشریهچاپی
کشور محل چاپایران

چکیده مقاله

لینک ثابت مقاله